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冷热冲击试验标准下载(GBT 2423.22-2012 快速温度变化)
2016-06-25 13:51  点击数:
冷热冲击试验标准下载(GBT 2423.22-2012 快速温度变化)
 
GBT 2423.22-2012 环境试验 第2部分:试验方法 试验N:温度变化
 
    试验概述
 
    本试验确定元器件、设备或其他产品耐环境温度快速变化的能力。实现这一目的所需的时间取决于试验样品的性质。
    试验样品应处于不包装、不通电、准备使用的状态或相关规范另外规定的状态。
    试验样品暴露在温度快速变化的空气或合适的惰性气体中,交替暴露于高温和低温下。
 
    试验程序
 
 1、试验箱
    
    可使用两个独立的温度试验箱或一个快速温度变化速率的试验箱(如:冷热冲击试验箱)。如果使用两个试验箱,一个试验箱用于低温,一个试验箱用于高温,两个试验箱的位置应使得试验样品从一个试验箱转换到另一个试验箱在规定的时间内完成。可采用人工或自动转换的方法。
    试验箱中放置试验样品的任何区域应能保持试验规定的空气温度。
    在放入试验样品后,空气温度应在暴露持续时间的10%以内达到规定的容差范围。
 
 2、试验样品的安装或支撑
 
    除非相关规范另有规定,安装获支撑架应具有低导热性,以使得试验样品实际上是绝热的。当几个试验样品同时试验时,放置试验样品时应使得试验样品之间、试验样品和试验箱内表面之间的空气自由流通。
 
 3、严酷等级
 
    具体信息请下载如下标准资料阅览:

    
GBT 2423.22-2012 快速温度变化

4、冷热冲击试验箱介绍

产品型号

WSLR-042

WSLR-080

WSLR-150

WSLR-252

WSLR-450

产品简介

  三箱式冷热冲击试验箱用来测试材料结构或复合材料,在瞬间下经极高温及极低温的连续环境下所能忍受的程度,藉以在最短时间内试验其热胀冷缩所引起的化学变化或物理伤害。 
主要用于电子电器零组件、自动化零部件、通讯组件、汽车配件、金属、化学材料、塑胶等行业,国防工业、航天、兵工业、BGA、PCB基扳、电子芯片IC、半导体陶磁及高分子材料之物理牲变化,测试其材料对高、低温的反复抵拉力及产品于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害,可确认产品的品质,从精密的IC到重机械的组件,无一不需要它的理想测试工具

技术参数

型号

WSLR-042

WSLR-080

WSLR-150

WSLR-252

WSLR-450

内部尺寸WxHxD(cm)

40×35×30

50×40×40

60×50×50

70×60×60

80×75×75

外部尺寸WxHxD(cm)

140x180x145

148X190X155

160x200X175

175x210X187

190x220x200

温度范围

(150℃~A:-45℃;B:-55℃;C:-65℃);(高温区 High temperature zone :+60℃~+150℃;低温区 Low temperature zone :-10℃~-65℃;)

升温时间(蓄热区)

RT~200℃约需35min

降温时间(蓄冷区)

RT~-70℃约需85min

温度回复时间/转换时间

≤5min内 / ≤10sec内

温度控制精度/分布精度

±0.5℃ / ±2.0℃

内外部材质

全机为SUS 304#不锈钢板雾面处理,内箱为不锈钢

保温材质

耐高温高密度氯基甲酸乙醋泡沫绝缘体材料

系统

P.I.D+S.S.R+微电脑平衡调温控制系统

冷却系统

半密闭式双段压缩机(水冷式)/全密闭式双段压缩机(风冷式)

安全保护装置

无熔丝开关、压缩机高低压保护开关、冷媒高压保护开关、故障警告系统、电子警报器

配件

观窗口(特殊选购型)、上下可调隔层两片、通电测线孔、脚轮、水平支架

电源

AC380V 50HZ/60HZ 3∮

重量(大约)

700Kg

900Kg

1200Kg

1400Kg

1900Kg

控制器

韩国“TEMI” South Korea“TEMI” 或日本“OYO”牌 Japan's “OYO” Brand  任选Optional

压缩机

法国"泰康"牌France/s "Tecumseh" Brand


         
      扩展资料:
      
      冷热冲击试验箱怎么分辨R23机组是否漏冷媒呢?

      冷热冲击试验箱风冷和水冷的区别